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  • APS-100型APS-100高濃度納米粒度儀
    APS-100型APS-100高濃度納米粒度儀

    更新時(shí)間:2020-04-01

    型號:APS-100型

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    APS-100高濃度納米粒度儀,APS 從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù),不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導(dǎo)率和溫度。
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  • Zeta-FinderZF400型ZetaFinder ZF400 高濃度Zeta電位分析儀
    Zeta-FinderZF400型ZetaFinder ZF400 高濃度Zeta電位分析儀

    更新時(shí)間:2020-03-20

    型號:Zeta-FinderZF400型

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    ZetaFinder ZF400 高濃度Zeta電位分析儀 采用專門的電動聲波振蕩技術(shù),該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果,從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限,該儀器可同時(shí)測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時(shí)甚至可以進(jìn)行滴定操作;
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  • ZetaAPS型高濃度納米粒度儀及zeta電位分析儀
    ZetaAPS型高濃度納米粒度儀及zeta電位分析儀

    更新時(shí)間:2021-08-19

    型號:ZetaAPS型

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    Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀$nZeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測儀,可以測試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。$n此儀器容易使用、測量精確。對于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品,也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理,即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量。
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  • ZetaAcoustic ZA500 高濃度Zeta電位分析儀
    ZetaAcoustic ZA500 高濃度Zeta電位分析儀

    更新時(shí)間:2020-11-25

    型號:

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    ZetaAcoustic ZA500 高濃度Zeta電位分析儀$n美國MAS公司成立至今有30余年歷史,專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、 Zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)。超聲法原理測試樣品的顆粒分布,是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波在樣品中傳播,由于不同大小粒徑對聲波的吸收、散射作用不同,導(dǎo)致聲波衰減程度不同。根據(jù)顆粒大小和聲波衰減之間的函數(shù)關(guān)系,得到顆粒的粒度分布。
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  • CHDF3000型高分辨率納米粒度儀
    CHDF3000型高分辨率納米粒度儀

    更新時(shí)間:2020-03-19

    型號:CHDF3000型

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    高分辨率納米粒度儀 1】高分辨率粒度分布(PSD)測量 新的技術(shù),包括顆粒檢測高靈 敏度、動態(tài)范圍和納米顆粒優(yōu)化分析。 2】粒子分餾的真實(shí) PSD 數(shù)據(jù)。無需對粒徑分布的形狀進(jìn)行假設(shè)。 3】精確非均勻樣品分析—包括納 米顆?!?dú)w功于其與顆粒密度無關(guān)的分析。 4】自動/無人操作。所有組件都在一個(gè)簡易單一窗口界面控制和操作。
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  • AREPA型原液zeta電位分析儀
    AREPA型原液zeta電位分析儀

    更新時(shí)間:2020-11-25

    型號:AREPA型

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    AREPA原液在線納米粒度儀$n在線粒度測量,工業(yè)加工狀態(tài),不必稀釋樣品經(jīng)硬件設(shè)計(jì)可全(24 hours/7 days) 候運(yùn)作,無需移動部件實(shí)時(shí)控制的快速測量
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  • CHDF4000型高分辨率納米粒度儀
    CHDF4000型高分辨率納米粒度儀

    更新時(shí)間:2020-03-19

    型號:CHDF4000型

    瀏覽量:3624

    高分辨率納米粒度儀 CHDF4000是基于光散原理的儀器,使用新的技術(shù)對高分辨率的粒度分布(PSD)進(jìn)行測量,包括高粒子檢測靈敏度、動態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析;
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  • CHDF4000型CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀
    CHDF4000型CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀

    更新時(shí)間:2020-03-26

    型號:CHDF4000型

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    CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀 CHDF4000是基于光散原理的儀器,使用新的技術(shù)對高分辨率的粒度分布(PSD)進(jìn)行測量,包括高粒子檢測靈敏度、動態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析; CHDF4000可提供完整范圍5納米至NM3微米,真實(shí)的PSD數(shù)據(jù); 通過粒子分離真正的PSD數(shù)據(jù),關(guān)于粒子大小分布的形狀不需要假設(shè); 自動化操作,通過一個(gè)人性化界面即可完成全部操作
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